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同轴光源
采用半透半反分光结构,使光源光线与相机光路严格同轴,垂直照射物体表面。
技术参数
入射角偏差
控制在±2°以内
成像清晰度
提升约30%
产品特点
●
同轴分光设计:抑制镜面反射干扰,成像清晰度提升约30%
●
准直光路:入射角偏差控制在±2°以内,增强微小划痕、凹坑对比度
●
多波长可选:支持红、绿、蓝、白光,短波蓝光可强化内部缺陷识别
应用场景
◆
芯片引脚平整度检测
◆
Mark点定位
◆
金属/玻璃等高反光材质缺陷识别
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